Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

Renningen-Malmsheim

1994

810 S.

634 Abb., 304 Lit. Ang.

Bandaufführung

3-8169-1038-6

70750

Der Themenband - vermittelt Kenntnisse über den Aufbau und die Funktionsweise von Rasterelektronenmikroskopen - informiert über die Vielfalt der Abbildungsmöglichkeiten - gibt praxisbezogen Hinweise auf die Optimierung der Geräteeinstellung für eine optimale Abbildung - führt in die Verfahren zur qualitativen und quantitativen Mikrobereichsanalyse ein - gibt eine Übersicht über Verfahren zur Oberflächenanalytik - informiert über alternative Rastermethoden - gibt Tips für die Präparation und Beschichtung von Proben - zeigt Einsatzmöglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie für Schadensfalluntersuchungen an Metallen, Keramiken und Polymeren - informiert über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie in der Halbleitertechnologie - informiert über Zusatzgeräte zur Erweiterung des REM-Einsatzbereichs von REM.