- Standardsignatur8320
- Titel(Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen am Xylem kranker Eichen von der Ebene von Krotoszyn)
- Verfasser
- Erscheinungsjahr1989
- SeitenS. 385-388
- Illustrationen4 Abb., 8 Lit. Ang.
- MaterialUnselbständiges Werk
- Datensatznummer200076117
- Quelle
- AbstractIn einem stark geschaedigten Quercus robur-Bestand auf der Ebene von Krotoszyn wurden Holzproben von Staemmen kranker Baeume fuer rastereleltronenmikroskopische Untersuchungen gewonnen In den Gefaessen wurden haeufig Pilzhyphen gefunden. Die meisten Hyphen befanden sich in den Proben aus unmittelbarer Naehe der Rinde. Neben der Anwesenheit von Hyphen wurden viele abnorme Strukturen in den Proben aus dem aeusseren Bereich des Holzes beobachtet.
- Schlagwörter
- Klassifikation48 (Schäden infolge unbekannter oder komplexer Ursachen (nach Holzarten geordnet))
176.1 (Dicotyledoneae [Siehe Anhang D])
811.18--016 (Xylem. Mikroskopie (einschl. Verwendung verschiedener Färbe- und Beizmittel für makroskopische Bestimmungen))
[438] (Polen)
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