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  • Titel
    Praxis der Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse
  • Verfasser
  • Erscheinungsort
    Renningen-Malmsheim
  • Verlag
  • Erscheinungsjahr
    1994
  • Seiten
    810 S.
  • Illustrationen
    634 Abb., 304 Lit. Ang.
  • Material
    Bandaufführung
  • ISBN
    3-8169-1038-6
  • Standardsignatur
    14122
  • Datensatznummer
    70750
  • Quelle
  • Abstract
    Der Themenband - vermittelt Kenntnisse über den Aufbau und die Funktionsweise von Rasterelektronenmikroskopen - informiert über die Vielfalt der Abbildungsmöglichkeiten - gibt praxisbezogen Hinweise auf die Optimierung der Geräteeinstellung für eine optimale Abbildung - führt in die Verfahren zur qualitativen und quantitativen Mikrobereichsanalyse ein - gibt eine Übersicht über Verfahren zur Oberflächenanalytik - informiert über alternative Rastermethoden - gibt Tips für die Präparation und Beschichtung von Proben - zeigt Einsatzmöglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie für Schadensfalluntersuchungen an Metallen, Keramiken und Polymeren - informiert über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie in der Halbleitertechnologie - informiert über Zusatzgeräte zur Erweiterung des REM-Einsatzbereichs von REM.
ExemplarnummerSignaturLeihkategorieFilialeLeihstatus
10004638N14122MonographieBüchermagazinVerfügbar