Die Bestimmung von Nadeloberflaechen ueber Elektrooptische Messungen

1995

14 Lit. Ang.

Unselbständiges Werk

621

200025549

Mit Hilfe des Geraetes LAI-2000 der Firma Li-Cor Inc. wurde in 9 annaehernd reinen Fichtenbestaenden verschiedenen Alters untersucht, inwieweit die vom Geraet gelieferten Leaf Area Inices (LAI) mit der Herleitung der Nadeloberflaeche aus der Splintflaeche uebereinstimmen. Dabei zeigte sich eine starke Verzerrung der Messergebnisse durch die Bestandeshoehe. Die ueber die Bestandeshoehe korrigierten Messergebnisse erweisen sich jedoch als gute Schaetzer fuer die Nadeloberflaeche, wenn man Messergebnisse des aeussersten Ringes der Aufnahmelinse nicht in die Berechnung mit eingehen laesst. Ein Vergleich mit herkoemmlichen Bestandesdichtermassen (Crown Competition Factor, Bestockungsgrad, Ueberschirmung) ergibt, dass diese nicht als Schaetzer fuer die Nadeloberflaeche verwendet werden koennen.