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Verfasser
Bartz, Wilfried J.
1
Schmidt, Peter Fritz
1
Sieker, Friedhelm
1
Sieker, Heiko
1
Körperschaft
Technische Akademie Esslingen. Weiterbildungszentrum
1
Material
Serie
2
Bandaufführung
2
Klassifikation
116.9
1
--016
1
Schlagwort
Rasterelektronenmikroskop
1
Röntgenmikroanalyse
1
rasterelektronenmikroskopische Untersuchung
1
Rasterelektronenmikroskopie
1